微焊點(diǎn)推力測(cè)試機(jī)可進(jìn)行微電子引線鍵合后引線焊接強(qiáng)度測(cè)試、焊點(diǎn)與基板表面粘接力測(cè)試、焊球重復(fù)性推力疲勞測(cè)試(內(nèi)引線拉力測(cè)試、微焊點(diǎn)推力測(cè)試、金球推力測(cè)試、芯片剪切力測(cè)試、SMT焊接元器件推力測(cè)試、BGA矩陣整體推力測(cè)試)。微焊點(diǎn)推力測(cè)試機(jī)廣泛用于LED封裝測(cè)試,IC半導(dǎo)體封裝測(cè)試、TO封裝測(cè)試,IGBT功率模塊封裝測(cè)試,光電子元器件封裝測(cè)試,汽車領(lǐng)域,航天航空領(lǐng)域,軍工產(chǎn)品測(cè)試,研究機(jī)構(gòu)的測(cè)試及各類院校的測(cè)試研究等應(yīng)用。
微焊點(diǎn)推力測(cè)試機(jī)可進(jìn)行微電子引線鍵合后引線焊接強(qiáng)度測(cè)試、焊點(diǎn)與基板表面粘接力測(cè)試、焊球重復(fù)性推力疲勞測(cè)試(內(nèi)引線拉力測(cè)試、微焊點(diǎn)推力測(cè)試、金球推力測(cè)試、芯片剪切力測(cè)試、SMT焊接元器件推力測(cè)試、BGA矩陣整體推力測(cè)試)。微焊點(diǎn)推力測(cè)試機(jī)廣泛用于LED封裝測(cè)試,IC半導(dǎo)體封裝測(cè)試、TO封裝測(cè)試,IGBT功率模塊封裝測(cè)試,光電子元器件封裝測(cè)試,汽車領(lǐng)域,航天航空領(lǐng)域,軍工產(chǎn)品測(cè)試,研究機(jī)構(gòu)的測(cè)試及各類院校的測(cè)試研究等應(yīng)用。
微焊點(diǎn)推力測(cè)試機(jī)特點(diǎn):
1.采用測(cè)試工位自動(dòng)模式,在軟件選擇測(cè)試工位后,系統(tǒng)自動(dòng)到達(dá)對(duì)應(yīng)工作位。
2.三個(gè)工作傳感器,采用獨(dú)立采集系統(tǒng),保證測(cè)試精度。
3.每項(xiàng)傳感器采用獨(dú)立防碰撞及過力保護(hù)系統(tǒng)。
4.每項(xiàng)測(cè)試工位采用獨(dú)立安全限位及限速功能。
5.人性化的操作界面,人員操作方便。
6.高精度傳感系統(tǒng)結(jié)合獨(dú)特力學(xué)算法,確保測(cè)試的精度。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1.采用精密動(dòng)態(tài)傳感采集技術(shù),確保測(cè)試數(shù)據(jù)精度的真實(shí)性。
2.采用進(jìn)口傳動(dòng)部件,確保機(jī)臺(tái)運(yùn)行穩(wěn)定性及測(cè)試精度。
3.三工位自動(dòng)旋轉(zhuǎn)切換,避免因人員誤操作帶來的設(shè)備損壞。
4.霍爾雙搖桿四向操作,讓操作簡(jiǎn)單、方便。
5.完美匹配工廠MES系統(tǒng)。
6.測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)保存與導(dǎo)出,方便快捷。
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